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L'argomento
della tesi è il collaudo di memorie DRAM, sia in ambito
System-on-chip (embedded DRAM) che in ambito System-in-Package (stacked
DRAM).
Il lavoro di tesi proposto
consiste nella
realizzatione di un circuito di self-test, chiamato SCRAM-BIST, che
tenga in considerazione i parametri di scrambling della memoria
collaudata.
La tesi proposta consiste
nell'uso di
strumenti di programmazione VHDL, sintesi e simulazione.
A discrezione del candidato, la tesi può essere svolta:
- presso il laboriatorio di ricerca 3 del dip. di
Automatica e Informatica del Politecnico di Torino (lab3) - PC fornito
dal gruppo di ricerca;
- utilizzando i server a disposizione tramite
collegamento remoto.
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