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L'argomento della tesi è la
realizzatione dell'ambiente SW necessario per l'analisi dei guasti in memorie embedded.
La tesi proposta unisce gli aspetti HW e SW a quelli
dell'analisi dei componenti; si applica ad un caso di studio reale, il test-chip
DFM realizzato da STMicroelectronics.
Il lavoro consta di due fasi; (1) sviluppo di plugin per esistente
piattaforma SW sviluppata in linguaggio JAVA, (2) analisi sul campo di
un lotto di dispositivi.
La sede di svolgimento della tesi è un laboriatorio di ricerca del Politecnico di Torino, nella zona del radoppio.
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